奧氏體(ti)不銹(xiu)鋼(gang)的(de)焊縫不能用UT檢(jian)(jian)測(ce)。因存在雙晶晶界顯著影(ying)響超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)衰減和傳播。如(ru)果cs的(de)采用可記錄的(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)檢(jian)(jian)測(ce)一(yi)般(ban)設計者是會(hui)同意的(de)能做射線(xian)無(wu)損(sun)探(tan)傷(shang)的(de)就別做超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)無(wu)損(sun)檢(jian)(jian)測(ce)射線(xian)無(wu)損(sun)探(tan)傷(shang)可以(yi)(yi)代(dai)替超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)無(wu)損(sun)檢(jian)(jian)測(ce) RT可以(yi)(yi)對缺陷(xian)進行定性分析,比(bi)較直觀,而UT不能定性,只能通過當(dang)量比(bi)較缺陷(xian)的(de)大(da)小來對缺陷(xian)進行評級(ji),現在有(you)一(yi)種TOFT技術(shu)可以(yi)(yi)把缺陷(xian)的(de)立體(ti)形狀(zhuang)顯示(shi)出來,估計不遠的(de)將(jiang)來會(hui)比(bi)較流行.
兩種方(fang)法的(de)檢(jian)測(ce)(ce)機理不同(tong)，各(ge)具特點：X、γ射(she)線(xian)對體積(ji)型缺陷敏(min)感，但對線(xian)狀缺陷，特別(bie)是(shi)厚板(ban)中細小的(de)未焊(han)透(tou)(熔入不足)或微裂紋等難(nan)(nan)于(yu)發現，而(er)超(chao)音波(bo)對線(xian)狀缺陷敏(min)感，卻對點狀缺陷的(de)定(ding)(ding)(ding)量(liang)不容(rong)易(yi)(yi)定(ding)(ding)(ding)準;射(she)線(xian)照像對工件表(biao)面要求不高(gao)(gao)，它(ta)是(shi)通過底片(pian)(pian)來評(ping)價(jia)焊(han)接質(zhi)量(liang)的(de)，其特點是(shi)直觀(guan)且易(yi)(yi)于(yu)定(ding)(ding)(ding)性(xing)和(he)存檔，但難(nan)(nan)于(yu)確定(ding)(ding)(ding)深度(du)方(fang)向的(de)尺寸，而(er)超(chao)音波(bo)檢(jian)測(ce)(ce)對檢(jian)測(ce)(ce)面的(de)要求較(jiao)嚴(yan)格，它(ta)是(shi)通過熒光屏上的(de)波(bo)形來評(ping)價(jia)缺陷的(de)，其特點是(shi)易(yi)(yi)于(yu)確定(ding)(ding)(ding)深度(du)，但不直觀(guan)且不易(yi)(yi)存檔，定(ding)(ding)(ding)性(xing)要經綜合判斷，檢(jian)測(ce)(ce)人(ren)(ren)員應(ying)素質(zhi)好和(he)責(ze)任心強;射(she)線(xian)對人(ren)(ren)體有害，故要防護，且要耗(hao)費大(da)量(liang)的(de)膠(jiao)片(pian)(pian)和(he)藥(yao)品(pin)，檢(jian)測(ce)(ce)費用較(jiao)高(gao)(gao)，而(er)超(chao)音波(bo)對人(ren)(ren)體無(wu)害，且檢(jian)測(ce)(ce)費用較(jiao)低;射(she)線(xian)能(neng)檢(jian)測(ce)(ce)粗晶材料(liao)(如(ru)奧氏體焊(han)縫等)，而(er)超(chao)音波(bo)檢(jian)測(ce)(ce)此類材料(liao)困難(nan)(nan)。
a)射(she)線：對人(ren)(ren)體有輻射(she)。有底片，對氣孔(kong)、夾雜等超標缺陷檢測(ce)是強(qiang)項。英國人(ren)(ren)比較看好(hao)此(ci)方法(fa);
b)超聲波：對(dui)人體無輻射。沒有(you)底(di)片，對(dui)裂紋等超標(biao)缺(que)陷(xian)(xian)(xian)檢測(ce)是(shi)強項。歐(ou)洲人比(bi)較看好此(ci)方(fang)法。射線能確定缺(que)陷(xian)(xian)(xian)平(ping)面投影的(de)(de)位(wei)置、大小，不(bu)(bu)適(shi)用于鍛(duan)件、管(guan)材(cai)、棒材(cai)、T型接(jie)(jie)(jie)、角(jiao)接(jie)(jie)(jie)以及(ji)堆(dui)焊層的(de)(de)檢測(ce)。超聲能確定缺(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)位(wei)置和相對(dui)尺寸，適(shi)用于鍛(duan)件、管(guan)材(cai)、棒材(cai)、T型接(jie)(jie)(jie)、角(jiao)接(jie)(jie)(jie)以及(ji)堆(dui)焊層的(de)(de)檢測(ce)。關鍵是(shi)看什么情況,不(bu)(bu)一定說RT就比(bi)UT好,壁厚很厚的(de)(de)話(hua),片子(zi)灰糊,不(bu)(bu)容易評定細小裂紋,但UT可(ke)以檢測(ce)到(dao),各有(you)所長，也可(ke)以說互補，一個(ge)測(ce)垂直缺(que)陷(xian)(xian)(xian)有(you)利，一個(ge)測(ce)平(ping)形缺(que)陷(xian)(xian)(xian)有(you)利，得(de)看情況. UT對(dui)探傷人員個(ge)人素質要求比(bi)較高 但UT成本低 目前也有(you)記錄的(de)(de)手(shou)段.
RT 和(he)(he)UT都是用(yong)得較(jiao)(jiao)為普(pu)遍的無損檢測(ce)方式，對金屬(shu)本(ben)身、焊(han)縫等缺(que)(que)陷(xian)(xian)進行(xing)檢測(ce)的手段(duan)，RT和(he)(he)UT各(ge)有(you)(you)側重(zhong)點，相比較(jiao)(jiao)而言，RT 用(yong)得更(geng)多些，RT成本(ben)也較(jiao)(jiao)UT貴，準確(que)率也高些;不(bu)一(yi)定說(shuo)RT就比UT好,壁厚很厚的話,片子(zi)灰糊(hu),不(bu)容易評(ping)定細(xi)小裂紋,但UT可(ke)以(yi)檢測(ce)到,各(ge)有(you)(you)所長，也可(ke)以(yi)說(shuo)互(hu)補，一(yi)個測(ce)垂(chui)直(zhi)缺(que)(que)陷(xian)(xian)有(you)(you)利，一(yi)個測(ce)平(ping)(ping)形缺(que)(que)陷(xian)(xian)有(you)(you)利，得看情況;射線能(neng)(neng)確(que)定缺(que)(que)陷(xian)(xian)平(ping)(ping)面(mian)投影(ying)的位置、大小，不(bu)適用(yong)于鍛(duan)件(jian)、管材(cai)、棒材(cai)、T型(xing)接(jie)、角接(jie)以(yi)及(ji)堆(dui)焊(han)層(ceng)的檢測(ce)。超聲能(neng)(neng)確(que)定缺(que)(que)陷(xian)(xian)的位置和(he)(he)相對尺寸，適用(yong)于鍛(duan)件(jian)、管材(cai)、棒材(cai)、T型(xing)接(jie)、角接(jie)以(yi)及(ji)堆(dui)焊(han)層(ceng)的檢測(ce)。
兩(liang)種探(tan)傷方(fang)(fang)(fang)法都(dou)是非(fei)常優秀的(de)但(dan)因(yin)(yin)為(wei)兩(liang)種方(fang)(fang)(fang)法的(de)操作原理，物理基礎(chu)，檢出缺(que)陷(xian)(xian)的(de)不同，并沒有可(ke)比性，談不上什么區別。 UT方(fang)(fang)(fang)法的(de)檢測(ce)范圍相對(dui)廣一(yi)些，但(dan)因(yin)(yin)為(wei)較小分辨力和波長頻率等物理參數有關(guan)系，也相對(dui)有其局限(xian)性。其對(dui)不同被檢件(jian)，都(dou)有高檢出率，特別是對(dui)微裂紋，或在 RT中缺(que)陷(xian)(xian)趨向與射線入射方(fang)(fang)(fang)向一(yi)致的(de)缺(que)陷(xian)(xian)。
RT方法(fa)，是二維平面成相，相對(dui)直(zhi)觀，但無法(fa)較精確確定缺陷的(de)深(shen)度(du)等參數(shu)，同(tong)時因為(wei)在管(guan)道等曲面檢測件，因為(wei)影(ying)響放大失真，容易產生定量錯誤(wu)。 RT非(fei)常適合氣孔，夾渣等體積型(xing)缺陷;UT適合裂紋(wen)等面積型(xing)缺陷。